- Автор: К. И. Таперо
- Описание: В курсе лекций по дисциплине «Основы радиационной стойкости изделий электронной техники космического применения» рассмотрены...
- Издательство: МИСиС
- Год издания: 2011
- Автор: Андрей Душин
- Описание: Рассмотрен принцип работы одного из самых популярных в электронике видов микросхем – операционных усилителей. На примере идеальной...
- Издательство: МИСиС
- Год издания: 2002
- Автор: Михаил Орлов
- Описание: Учебное пособие поможет студентам второго курса познакомиться и освоить основные разделы высшей математики, а также основы...
- Издательство: МИСиС
- Год издания: 2000
- Автор: Геннадий Кузнецов
- Описание: В пособии излагаются теоретические основы работы программы SimWindows 1.5, предназначенной для моделирования полупроводниковых приборов и...
- Издательство: МИСиС
- Год издания: 2012
- Автор: Евгений Ступаков
- Описание: В настоящее пособие включены задачи по моделированию различных объектов и систем управления, используемых в сталеплавильном...
- Издательство: МИСиС
- Год издания: 2001
- Автор: Дмитрий Крутогин
- Описание: В пособии излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля в рамках...
- Издательство: МИСиС
- Год издания: 2012
- Автор: В. Н. Мурашев
- Описание: С позиций радиационной технологии микроэлектроники процесс смещения атомов из узлов кристаллической решетки наиболее интересен,...
- Издательство: МИСиС
- Год издания: 2001
- Автор: С. Ю. Юрчук
- Описание: В учебном пособии рассматриваются методы решения задач линейных и нелинейных уравнений, методы теории приближения функций,...
- Издательство: МИСиС
- Год издания: 2009
- Автор: С. Ю. Юрчук
- Описание: В учебном пособии описаны основные математические модели современных технологических процессов полупроводниковой электроники:...
- Издательство: МИСиС
- Год издания: 2014
- Автор: Геннадий Фарнасов
- Описание: Учебник по курсам «Электротехника, электроника, электрооборудование» соответствует программам для студентов металлургических...
- Издательство: МИСиС
- Год издания: 2012
- Автор: В.В. Батавин
- Описание: Пособие включает разделы метрологии, посвященные обеспечению единства измерений характеристик материалов электронной техники. В...
- Издательство: МИСиС
- Год издания: 2001
- Автор: Алексей Ковалев
- Описание: Рассмотрены физические явления на границе раздела полупроводник – диэлектрик и в контактах металл – полупроводник. Изложены...
- Издательство: МИСиС
- Год издания: 2010
- Автор: Марина Орлова
- Описание: Рассмотрены физические и технологические основы наноэлектроники. Описаны подходы, позволяющие формировать элементы электронной...
- Издательство: МИСиС
- Год издания: 2013
- Автор: Марина Орлова
- Описание: Приведен обзор основных электронных схем и устройств схемотехники. Представлено описание функционирования, методов анализа и...
- Издательство: МИСиС
- Год издания: 2016
- Автор: Алексей Ковалев
- Описание: Пособие посвящено анализу нового направления электроники – гетероструктурной наноэлектронике. Это часть более масштабного...
- Издательство: МИСиС
- Год издания: 2009
- Автор: Геннадий Кузнецов
- Описание: В данном пособии излагаются теоретические основы работы программы SimWindows 1.5, предназначенной для моделирования полупроводниковых...
- Издательство: МИСиС
- Год издания: 2005
- Автор: Сергей Курочка
- Описание: В результате анализа условий проявления квантово-размерных эффектов, возникающих в многослойных тонкопленочных структурах,...
- Издательство: МИСиС
- Год издания: 2015
- Автор: Евгений Ладыгин
- Описание: В учебном пособии изложены основы современных методов обеспече› ния надежности электронных компонентов космических аппаратов (КА),...
- Издательство: МИСиС
- Год издания: 2003
- Автор: К. И. Таперо
- Описание: Учебное пособие посвящено вопросам деградации полупроводниковых приборов и интегральных схем вследствие дефектов, образующихся при...
- Издательство: МИСиС
- Год издания: 2013
- Автор: Дмитрий Крутогин
- Описание: В пособии излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля в рамках...
- Издательство: МИСиС
- Год издания: 2015